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器件失效分析技术与经典案例解析

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课程介绍

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讲师介绍:

荣庆安老师|EDA365论坛特邀版主,原华为器件可靠性技术首席专家

  • 原华为器件可靠性技术首席专家、器件工程专家组主任、器件归一化工作奠基人;
  • 20多年交换机、路由器、传输、基站等产品器件工程设计
  • 主持多项重大失效问题攻关,完成了逻辑、储存、光器件等领域器件优选库建设;
  • 参与中国器件标准工作,国内外发表论文4篇,获器件相关6项发明专利。

 

主题背景:

  • 电子信息技术是当今新技术革命的核心,电子元器件是发展电子信息技术的基础,电子元器件是构成电子设备最小和最基本的单元,电子设备主要是由电子元器件组成的,电子元器件的可靠性直接影响电子设备可靠性。了解造成元器件失效的原因,以提高可靠性,是电子信息技术应用的必要保证。
  • 本次直播分享,荣老师将会给大家分享《器件失效分析技术与经典案例解析》主要帮助大家建立元器件可靠性、失效分析、失效模式、失效机理等基本概念,熟悉电子元器件常见失效模式与失效机理,建立不同门类元器件的失效分析思路和方法,为开展可靠性设计、物料管控、故障分析、生产制造以及安装运维等产品全寿命周期的可靠性工作打下基础。

直播要点:

  • 器件失效分析技术概论
  • 失效分析技术方法
  • 失效机理的归纳讲解
  • 经典案例解析

适合对象:

  • 硬件工程师
  • 器件工程师
  • 测试工程师
  • 电气工程、电子信息相关专业学生