在当今高速电路板设计领域,芯片的高度集成使得电路板的布局布线密度越来越大,同时信号的工作频率不断提升,信号的上升沿和下降沿不断变陡,由此引发的信号完整性及 EMI 的问题,给可靠性设计人员,硬件开发人员带来前所未有的挑战。信号与电源完整性的问题处理不当会带来一系列 EMI/EMC的问题, 给产品的可靠性造成危害。
从工程的实际来看,EMI的问题虽然比较复杂,但是大量的案例表明,系统级别的 EMI/EMC问题其实辐射都来源于电路板PCB, 其次才是芯片封装、连接电缆、机箱和机架等部件。芯片IC作为一个电路的信号源,是所有信号的源头, 但它们往往不是产生辐射的直接源头,源头反而是PCB板上的高速走线,如时钟走线,晶振走线、高频高速走线等,PCB电源平面的谐振往往是EMI的主要辐射来源。
本节课程将从时域的角度分析不同激励频率、不同位置处的EMI辐射,并分析不同电路结构对远场EMI产生的影响。